在光學(xué)顯微鏡的樣品制備方法中，切片和研磨都是常用的技術(shù)，但它們的適用場(chǎng)景和優(yōu)缺點(diǎn)有所不同，因此無(wú)法一概而論哪個(gè)更常用。

切片法主要用于觀察組織或細(xì)胞的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，特別是需要保持細(xì)胞間正常相互關(guān)系時(shí)。這種方法能夠較好地保留細(xì)胞的原貌，并且能長(zhǎng)時(shí)間地保存樣品。切片法制備過(guò)程包括取材、固定、脫水、包埋、切片、染色等一系列步驟，其中石蠟切片法是*常用的方法之一。石蠟切片能夠切出極薄的蠟片，便于制作連續(xù)切片，并且操作相對(duì)容易，組織塊可以長(zhǎng)期保存在石蠟中。

研磨法則主要用于制備較硬的樣品，如金屬、陶瓷、巖石等，或者需要觀察樣品表面微觀形貌時(shí)。研磨可以獲得平整的表面，并將損傷降到較低程度。研磨過(guò)程通常包括粗磨和精磨兩個(gè)步驟，使用不同粒度的研磨紙或研磨盤進(jìn)行。研磨后，樣品表面可能需要進(jìn)行拋光處理，以獲得更好的觀察效果。

在實(shí)際應(yīng)用中，選擇切片法還是研磨法取決于具體的觀察目的和樣品性質(zhì)。例如，對(duì)于需要觀察細(xì)胞內(nèi)部結(jié)構(gòu)的生物學(xué)研究，切片法可能更為常用；而對(duì)于需要觀察材料表面微觀形貌的材料科學(xué)研究，研磨法則可能更為合適。

綜上所述，切片和研磨在光學(xué)顯微鏡的樣品制備方法中都有其獨(dú)特的優(yōu)點(diǎn)和適用場(chǎng)景，因此無(wú)法確定哪個(gè)更常用。在實(shí)際應(yīng)用中，應(yīng)根據(jù)具體的觀察目的和樣品性質(zhì)選擇合適的方法。